二代测序技术及其在表观遗传研究中的应用

报告题目：二代测序技术及其在表观遗传研究中的应用

报告人：孙雪光 博士

时 间：2017年10月18日（星期三） 下午2:30

报告地点：文萃校区L楼西部特色生物资源保护与利用教育部重点实验室四楼学术报告厅

附：孙雪光博士简介

孙雪光，男，1972年出生，博士。1999年毕业于中科院生物物理所、2005年毕业于美国佐治亚理工大学获博士学位。2006-2008年在耶鲁大学做博士后，2008年-2010年在美国Agrivida Inc任高级研究员。2010年-2016年，在美国Zymo Research Corp任技术总监，2016年至今在美国辛辛那提儿童医院任基因测序分型中心主任、辛辛那提大学任副教授。主要从事测序技术和表观基因组学、生物制剂和临床分子诊断试剂等方面的研究与开发工作。先后在Genome Biol、Epigenetics和Nucleic Acids Research等刊物发表论文20余篇，获美国授权发明专利4项。